分析、精密天平

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微量天平 和 超微量天平

微量天平 和 超微量天平描述:


       梅特勒-托利多創新的微量和超微量天平XP/XS設立了高效稱量、用戶友好的操作界麵和高質量的新標準。這些微量天平可以提供現有分析天平具有的最高分辨率:高達無可匹敵的52,000,000位。明亮的觸摸顯示屏、智能化用戶操作指導以及無需用手接觸的紅外防風罩控製功能使得該係列高精度天平稱量更快速、操作更簡便、更有趣味。


微量天平 和 超微量天平規格:


產品 最大容量 分辨率 最小稱量值 (USP),典型值    
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XP6U超微量天平

6.1 g
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XS3DU微量天平

800.0 mg; 3.1 g 1.0 µg; 10.0 µg 1.0 mg
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XP6微量天平

6.1 g 1.0 µg 0.8 mg  
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XP26 微量天平

22.0 g 1.0 µg 1.4 mg

XP56 微量天平

52.0 g 1.0 µg 1.4 mg  
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XP26 DeltaRange 微量天平

22.0 g 1.0 µg 1.4 mg
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XP56 DeltaRange 微量天平

11.0 g; 52.0 g 2.0 µg; 0.01 mg 2.4 mg

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